产品名摄影测量反光标志点,摄影测量标志点,摄影测量反光点,高精度反射标记点
面向地区上海嘉定
产地美国
操作方式Hubbs摄影测量反射靶标
加工定制是
适用范围Hubbs摄影测量反射靶标
摄影测量反光标志点，Hubbs摄影反射标记点
顶柱科技（上海）有限公司是一家3D数字化解决方案设备和技术服务商。
总部位于上海，在武汉、南京、沈阳、广州均设有分公司和办事处。
主要销售的产品为FARO三维扫描系统、美国Brunson准直光学仪器、激光跟踪仪测量配件、美国NRK公司的SA测量软件等工业产品。
服务涵盖：三维扫描、尺寸检测、逆向工程服务、扫描造型，抄数造型、产品测绘，产品结构设计、**曲面设计。
上海总部地址：上海市嘉定区金沙江西路1555弄37号506室
武汉分公司地址：武汉市江夏区藏龙岛办事处长咀科技园创新苑D座3楼
联系电话： （蒋经理）
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产品介绍：
摄影测量靶标，目标中心为反射材料，可以在摄影测量仪器与跟踪仪配合测量时使用。
多种型号可选：普通型、带销型、球形
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