【摄影测量反光标志点价格

  • 时间:
  • 浏览:14
  • 来源:新工业网

产品名摄影测量反光标志点,摄影测量标志点,摄影测量反光点,高精度反射标记点

面向地区上海嘉定

产地美国

操作方式Hubbs摄影测量反射靶标

加工定制

适用范围Hubbs摄影测量反射靶标

摄影测量反光标志点,Hubbs摄影反射标记点

顶柱科技(上海)有限公司是一家3D数字化解决方案设备和技术服务商。

总部位于上海,在武汉、南京、沈阳、广州均设有分公司和办事处。

主要销售的产品为FARO三维扫描系统、美国Brunson准直光学仪器、激光跟踪仪测量配件、美国NRK公司的SA测量软件等工业产品。

服务涵盖:三维扫描、尺寸检测、逆向工程服务、扫描造型,抄数造型、产品测绘,产品结构设计、**曲面设计。

上海总部地址:上海市嘉定区金沙江西路1555弄37号506室

武汉分公司地址:武汉市江夏区藏龙岛办事处长咀科技园创新苑D座3楼

联系电话: (蒋经理)

公司网址:



产品介绍:



摄影测量靶标,目标中心为反射材料,可以在摄影测量仪器与跟踪仪配合测量时使用。



多种型号可选:普通型、带销型、球形

顶柱科技(上海)有限公司提供摄影测量反光标志点,Hubbs摄影反射标记点,包括摄影测量反光标志点,摄影测量标志点,摄影测量反光点,高精度反射标记点的详细产品价格、产品图片等产品介绍信息。